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JTAG各类接口针脚定义、含义以及SWD接线方式 参考文章

JTAG（Joint Test Action Group,联合测试行动小组）是一种国际标准测试协议，用于系统仿真、调试及芯片内部测试。它通过访问芯片内部封装好的测试电路TAP（Test Access Port,测试访问端口）来实现。目前大多数的芯片都支持JTAG协议，这样通过JTAG的仿真测试可便于研发人员的开发调试。

JTAG接口两种连接标准分别为14针接口和20针接口。其中必不可少的信号有：

TDO（Test Data Output）： TDO为数据输出接口，所有测试芯片内部特定寄存器的数据输出均是通过TDO接口由TCK驱动实现串行输出。

TDI（Test Data Input ）： TDI为数据输入接口。所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。

TMS（Test Mode Selection Input）：
TMS信号在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TMS信号用来控制TAP状态机的转换。通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。

TCK（Test Clock Input）：
TCK在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。

VTREF
接口信号电平参考电压一般直接连接Vcc（FPGA 接JTAG连接bank 0 的供电电压）

GND
VTREF连接的电源地

以上6个信号为JTAG必不可少的信号。
在项目中6根线的JTAG实际连接如图所示